我院MarioLanza副教授应国际权威出版公司Wiley-VCH的邀请，出版发行英文专著《Conductive Atomic Force Microscopy: Applications inNanomaterials》。该书主要介绍了通过采用导电原子力显微镜（CAFM）作为重要的研究工具，在纳米尺度对材料和器件的电学特性进行研究。内容几乎涵盖了所有可通过CAFM获得信息的新型模式，对该领域的研究者有极大的参考价值。

Wiley-VCH是约翰威立国际出版公司科学与技术出版业务旗下品牌，是德国重点出版学科内容的顶尖出版商之一，主要为全球科研工作者、工程师等提供高质量的信息，业务遍及世界各地，出版范围广泛、形式多样。

专著信息：
书名：Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
主编：Mario Lanza
国际标准书号: ISBN 978-3-527-34091-0
售价：205美元（纸质版）、164.99美元（电子版）
发行年份：2017年8月
链接：http://as.wiley.com/WileyCDA/WileyTitle/productCd-3527340912.html

简介：

The firstbook to summarize the applications of CAFM as the most important method in thestudy of electronic properties of materials and devices at the nanoscale. To provide a global perspective,the chapters are written by leading researchers and application scientists fromall over the world and cover novel strategies, configurations and setups wherenew information will be obtained with the help of CAFM. With its substantial content and logical structure,this is a valuable reference for researchers working with CAFM or planning touse it in their own fields of research.

责任编辑：向丹婷