透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2 um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前这台TEM的分辨力可达0.2 nm。
仪器名称 | 透射电镜 | 型号 | Tecnai G2 F20 | 厂家 | 美国FEI公司 | 主要规格及技术指标 | 点分辨率：0.24 nm 扫描透射分辨率：0.2 nm 放大倍数：25X～1,000,000X 放大倍数：25X～1,000,000X | 主要功能及应用范围 | 透射电镜可应用于生命科学、纳米技术、医学、生物学和材料研究，而且应用于工业和教学。透射电镜可提供样品表面特征，形状，大小，结构，元素和复合结构等。
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主要附件 | 能谱仪、能量损失谱仪 | 联系人 | 宋斌 | 联系电话 | 65881259 | E-mail | bsong@suda.edu.cn |
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