简介：每种晶体结构都有自己独特的X射线衍射谱。衍射谱的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度来表征。X射线分析仪是根据晶体对X射线的衍射线的位置、强度及数量来鉴定晶体物相的分析仪器。
仪器名称 | X射线粉末衍射仪 |
厂家 | 荷兰帕纳科公司 PANalytical |
型号 | 锐影 |
主要规格及技术指标 | 1、靶材：Cu ; 功率: 2~3 kW 2、最大工作电压：60 kV 最大工作电流：50 mA 3、测角仪：θ/θ 4、探测器：PIXcel3D |
主要功能及应用范围 | 锐影能够在不破坏样品结构下获得相关数据，能够测试的样品有粉末、薄膜、纳米材料、块体材料。他能够获得详细的化学组成、制造材料的晶体结构。 |
主要附件 | 1、微区模块 2、中低温模块 3、薄膜模块 4、多功能样品台 |
联系人 | 何小蝶 |
联系电话 | 65884616 |
E-mail | xdhe@suda.edu.cn |
责任编辑：何小蝶
