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绝对量子产率测量系统
发布时间:2020-07-06 点击:2719


仪器名称

绝对量子产率测量系统

厂家

日本滨松

主要规格及

技术指标

1. 光谱仪荧光测试范围 : 300 nm   – 950 nm

2. 激发波长 : 250 nm   – 850 nm

3. 多通道波长分辨率:<2 nm

主要功能及

应用范围

液体,固体样品

该设备可以用来测试发光材料的绝对量子效率。

主要附件

积分球:3.3 inch

联系人:宗怡

联系电话 :65881259

E-mailyzong@suda.edu.cn


责任编辑:宗


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